logo

IPIS

Intelectual Property Information System

developed by DIRBT UI

Metode Dan Alat Bantu (Jig and Fixture) Pengelasan Titik Hambatan Mikro Untuk Konstruksi Ringan Sarang Lebah Dengan Inti Berbentuk Barisan M

Paten Reguler

Informasi Paten

P00201706900

IDP000072322

-

-

Reguler

-

Tidak ada gambar

Abstrak

Suatu pengembangan metode dan alat pengelasan titik hambatan mikro untuk membuat konstruksi ringan sarang lebah dengan inti berbentuk barisan huruf M. Material yang digunakan alumunium dengan ketebalan 0,4 mm. Perkakas yang digunakan, proses pembuatan, dan bentuk konstruksi ringan sarang lebah dengan inti berbentuk barisan huruf M merupakan invensi yang disampaikan oleh inventor. Perkakas yang digunakan pembangkit panas hambatan listrik dipergunakan untuk mengatur dan membangkitkan arus listrik untuk melelehkan logam yang akan disambung, alat tuas penggerak kutub listrik atas merupakan alat yang dipergunakan untuk menggerakkan kutub listrik naik atau turun, memberikan tekanan pada kutub listrik atas, bagian yang disambung, dengan kutub bagian bawah. Dalam proses menyambung beberapa lapisan diperlukan alat bantu terdiri dari dua bagian yaitu tatakan atau landasan; dan pemegang atau pengunci; landasan atau tatakan merupakan alat yang berfungsi sebagai landasan lapisan-lapisan dari konstruksi sarang lebah yang akan disambung. Bentuk konstruksi ringan sarang lebah dengan inti berbentuk barisan huruf M yang tersusun dari tiga lapis. Proses pembuatan konstruksi sarang lebah: memotong lapisan bawah, pembuatan lapisan inti sarang lebah dengan menekuk membentuk barisan huruf M pada lengkungan siku, membuat lapisan atas, dan melakukan urutan pengelasan mulai lapisan bawah disambung dengan lapisan inti, dan lapisan atas.

Inventor

1

Dr. Ario Sunar Baskoro, S.T., M.T, M.Eng

2

Hakam Muzakki, S.T., M.T.

Pemohon

-

Fakultas Teknik

Ringkasan

Tahun Permohonan -
Masa Perlindungan -
Total Inventor 2

Informasi

Disclaimer: Informasi yang ditampilkan dalam Pangkalan Data Kekayaan Intelektual IPIS disediakan hanya untuk tujuan informasi. Sistem ini tidak menjamin keakuratan, kelengkapan, atau ketepatan waktu data yang tersedia, karena kemungkinan adanya pembaruan, koreksi, atau perubahan yang belum tercermin. Untuk keperluan pencarian atau analisis kekayaan intelektual yang bersifat menyeluruh, disarankan untuk berkonsultasi dengan Konsultan Kekayaan Intelektual resmi. Segala keputusan tidak seharusnya diambil semata-mata berdasarkan hasil pencarian dari sistem ini.

Kembali