logo

IPIS

Intelectual Property Information System

developed by DIRBT UI

Komposisi Mikropartikel Senyawa Kompleks Besi (II) Berbasis Komposit Kitosan–Alginat Dan Proses Pembuatannya Menggunakan Spray Drying

Paten Reguler

Informasi Paten

S00201810482

IDS000003313

-

-

Reguler

Belum Diklasifikasi

Tidak ada gambar

Abstrak

Invensi ini merupakan proses pembuatan mikropartikel senyawa kompleks besi (II) tersalut biopolimer menggunakan metode spray drying. Proses ini memberikan manfaat yang tepat untuk (i) melindung besi dari reaksi oksidasi; (ii) melindungi besi dari inhibitor dan kompetitor, serta (iii) meningkatkan bioavailibilitas besi. Invensi ini dilakukan dengan tahapan sebagai berikut (i) membuat larutan biopolimer, (ii) membuat campuran senyawa kompleks besi (II) dengan kitosan, (iii) membuat campuran umpan spray dryer, dan (iv) membuat mikropartikel dengan memasukkan larutan umpan kedalam spray dryer. Dengan perwujudan invensi ini, produk mikropartikel senyawa kompleks besi (II) seperti besi (II) glukonat dengan bioplomer seperti kitosan, memiliki hasil 28,39%-43,47%; efisiensi enkapsulasi 24,47%-38,19%; dan pemuatan besi 2,35%-2,63%; ukuran partikel 1,000-50,265 μm; struktur permukaan tampak bulat halus hingga bulat berkerut; serta profil pelepasan terkendali. Sifat dari mikropartikel hasil invesi ini diketahui melalui perhitungan konsentrasi zat besi total, uji Scanning Electron Microscopy (SEM), dan uji pelepasan zat besi terintegrasi menggunakan Simulated Gastric Fluid (SGF) selama 2 jam yang dilanjutkan dengan uji pelepasan menggunakan Simulated Intestinal Fluid (SIF) selama 5 jam.

Inventor

1

Elsa Anisa Krisanti, Ph.D.

2

Ir. Kamarza Mulia, MSc., Ph.D.

3

Noer Abyor Handayani, ST., M.T.

4

Prof. Ir. Sutrasno Kartohardjono, M.Sc., Ph.D.

5

Tiara Putri

Pemohon

-

Fakultas Teknik

Ringkasan

Tahun Permohonan -
Masa Perlindungan -
Total Inventor 5

Informasi

Disclaimer: Informasi yang ditampilkan dalam Pangkalan Data Kekayaan Intelektual IPIS disediakan hanya untuk tujuan informasi. Sistem ini tidak menjamin keakuratan, kelengkapan, atau ketepatan waktu data yang tersedia, karena kemungkinan adanya pembaruan, koreksi, atau perubahan yang belum tercermin. Untuk keperluan pencarian atau analisis kekayaan intelektual yang bersifat menyeluruh, disarankan untuk berkonsultasi dengan Konsultan Kekayaan Intelektual resmi. Segala keputusan tidak seharusnya diambil semata-mata berdasarkan hasil pencarian dari sistem ini.

Kembali