logo

IPIS

Intelectual Property Information System

developed by DIRBT UI

Komposisi Mikropartikel Senyawa Kompleks Besi II Berbasis Komposit Kitosan-Alginat Menggunakan Pengeringan Beku

Paten Reguler

Informasi Paten

S00201810466

IDS000003240

-

-

Reguler

Belum Diklasifikasi

Tidak ada gambar

Abstrak

Invensi ini berhubungan dengan komposisi mikropartikel senyawa kompleks besi (II) berbasis kitosan dan alginat menggunakan metode tautan silang. Invensi ini dilakukan dengan tahapan sebagai berikut (i) pembuatan mikropartikel senyawa kompleks besi (II) berbasis kitosan dan (ii) pembuatan mikropartikel senyawa kompleks besi (II) berbasis kitosan dan alginat. Senyawa kompleks besi (II) adalah senyawa yang umum digunakan sebagai obat dan suplemen pada pasien ADB, seperti besi (II) glukonat dan besi (II) fumarat. Dengan perwujudan invensi ini, produk mikropartikel memiliki nilai maksimum efisiensi enkapsulasi (F01) 75.69% dan pemuatan besi (F06) 3,13%; profil rilis terkendali; puncak baru pada bilangan gelombang 1730 cm-1 yang mengindikasi adanya ikatan poliektrolit antara kitosan-alginat; dan struktur permukaan seperti serabut matriks. Karakteristik dari mikropartikel hasil invensi ini diketahui melalui perhitungan konsentrasi zat besi total, uji pelepasan terintegrasi menggunakan Simulated Gastric Fluid (SGF) selama 120 menit dilanjutkan dengan uji pelepasan menggunakan Simulated Intestinal Fluid (SIF) selama 300 menit, uji Fourier Transform Infrared Spectroscopy (FTIR), dan uji Scanning Electron Microscopy (SEM).

Inventor

1

Ir. Kamarza Mulia, M.Sc., Ph.D.

2

Elsa Anisa Krisanti, Ph.D.

3

Noer Abyor Handayani, ST., M.T.

4

Prof. Ir. Sutrasno Kartohardjono, M.Sc., Ph.D.

5

Ghina Marsya Naziha

6

Nadina Sabila Amany

Pemohon

-

Fakultas Teknik

Ringkasan

Tahun Permohonan -
Masa Perlindungan -
Total Inventor 6

Informasi

Disclaimer: Informasi yang ditampilkan dalam Pangkalan Data Kekayaan Intelektual IPIS disediakan hanya untuk tujuan informasi. Sistem ini tidak menjamin keakuratan, kelengkapan, atau ketepatan waktu data yang tersedia, karena kemungkinan adanya pembaruan, koreksi, atau perubahan yang belum tercermin. Untuk keperluan pencarian atau analisis kekayaan intelektual yang bersifat menyeluruh, disarankan untuk berkonsultasi dengan Konsultan Kekayaan Intelektual resmi. Segala keputusan tidak seharusnya diambil semata-mata berdasarkan hasil pencarian dari sistem ini.

Kembali